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思瑞Croma Plus CMM三坐標測量儀憑借高精度、高重復性、強穩(wěn)定性、專業(yè)的服務等多項優(yōu)勢勝任葉片測量任務。
GLASS 高精度非接觸式光學白光掃描三坐標測量儀,結合光學白光掃描及影像技術,可專門用于高精度掃描與幾何數(shù)據(jù)采集.
思瑞測量為客戶成功部署電極三坐標自動化檢測方案,汽車零部件,手機殼,電機殼體等零件的自動化檢測方案,助力企業(yè)進入智能互聯(lián).
針對納米晶尺寸、瑕疵檢測及自動化檢測需求,思瑞推出納米晶自動化智能檢測方案,確保納米晶成品的尺寸及表面質量檢測要求.
思瑞手機自動貼膜方案,在10秒內實現(xiàn)手機保護膜高精度自動貼合，有效防止出現(xiàn)貼歪、氣泡、毛邊、翹邊等現(xiàn)象,提升貼膜質量。
思瑞針對各類汽車零部件檢測需求,推出多款高效率、高性能的定制化智能檢測方案,確保差速器,TBOX,發(fā)動機部件等汽車零部件的高質量、高可靠性制造.
思瑞測量有限公司針對手機充電器外殼推出了操作簡單、多方位尺寸瑕疵檢測設備,為檢測手機充電頭外觀缺陷提供了重要手段和依據(jù).
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