針對易變性曲面輪廓度檢測難題，思瑞測量開創(chuàng)性地將高像素CCD光學影像和CWS非接觸式共聚焦白光傳感器整合：由CCD鏡頭負責定位基準和測量長、寬、孔位等平面尺寸，CWS負責測量3D輪廓度、厚度、平面度等空間尺寸。各取所長，火力全開。

CCD影像測頭系統(tǒng)快速定位，確保測量精度

創(chuàng)新的CCD光學影像尋邊方式測量工件邊緣，快速準確建立基準，閃測二維尺寸，包括HOME鍵、指紋鍵、攝像頭等孔位、槽直徑、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。

重復測量精度高。建立基準重復性提升至2um，內外長寬、孔位重復性提升至2-3um，坐標建立時間縮短至38s。CCD尋邊效率比接觸式探針尋邊，要快3-5倍，提高了檢測效率。

CWS白光測頭系統(tǒng)檢測是提高產線良率、提高競爭實力的關鍵

CWS非接觸式共聚焦白光傳感器，采用色階共聚焦白光探頭，可以準確完成空間尺寸數(shù)據(jù)的量測（輪廓度，厚度、平面度、R角尺寸）。

對于曲面材料邊沿較大角度的位置，光譜共焦位移傳感器可以獲得更大可測量區(qū)域。其非接觸采點方式，測量全程不產生碰觸，無需擔心任何外力影響下的接觸變形。  

通過自動旋轉測座，靈活的實現(xiàn)3D玻璃的各位置的非接觸式掃描。且具有連續(xù)掃描功能，無需逼近回退，最高達到1000點/秒，減少了測頭回退時間和感應時間，比傳統(tǒng)測量方式快3倍左右，遠比想象更強大。

并且，CWS系統(tǒng)解決了長久以來工件表面要求反光和透明材質的這一痛點，可輕松應對敏感、柔軟、色散、反射、傾斜、彎曲或者低對比度的表面反光材質或透明材質的光學難點測量。

功能強大的方案軟件系統(tǒng)

RATIONAL DMIS軟件系統(tǒng)，擁有智能過濾功能，消除雜點，保證測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定和一致性。多樣化的測量報告、spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計、工藝改進提供支持等功能只需要輕松點擊鼠標即可實現(xiàn)。分析報告，直觀清晰。適用于產品分析，特殊位置展示等。

廣泛的應用范圍

易變形曲面掃描檢測方案精度高，也非常適用于石墨模具測量。石墨模具不能有劃痕，對其表面光滑度要求很高，這種非接觸式的檢測設備正好滿足需求。

除此之外，它還可以檢測其它易變形產品：3D玻璃、2.5D玻璃、不規(guī)則彎曲玻璃等。塑膠、橡膠立體產品（接觸變形大、精度要求較高）。