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思瑞掃描型三坐標測量機 CROMA PLUS，一款專為復雜曲面檢測而匠心設計的檢測設備，搭載高精度掃描控制系統(tǒng)，采用連續(xù)掃描技術，實現高速、高精度采樣，動態(tài)性能好，可擴展多種傳感器，被廣泛應用于各項復雜曲面的高精度檢測任務。
CROMA PLUS三坐標測量機利用 DCC Scanning 掃描模塊配合X1掃描測頭，可解決具有曲線、曲面等復雜型面零件的檢測和逆向要求。同時X 1掃描測頭也應用在我們集團的高精度萊茲三坐標上。
再采用不同的掃描模式，例如開線掃描、閉線掃描和自由掃描等，可輕松完成數據采集或與CAD數模比對。
獨特的飛行模式減少了運動中的停頓和拐角，從而確保了測量機的工作效率及運行的穩(wěn)定性。
高硬件配置的CROMA PLUS三坐標測量機搭載業(yè)界標桿測量軟件PC-DMIS或Rational DMIS，全球裝機量超過100,000套，以其直觀、強大、便捷等特點得到CMM業(yè)內專家的高度評價，為客戶提供更加智能的測量方案，為企業(yè)提供更加貼近客戶需求的服務。
思瑞以集團化的全球供應商平臺和標準工藝流程，共同保證CROMA PLUS三坐標測量機的每一個細節(jié)，讓測量機被廣泛應用于汽車、電子、軍工、航空航天等領域。
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